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冲击试样缺口测量新突破

更新时间:2018-06-12      点击次数:3616

冲击试样缺口新突破

概述

冲击试验将冲击试验缺口的尺寸要求非常严格,微小的变化,都会引起试验结果出现误差,为了确保将冲击试验缺口制样合格,缺口检验尤其重要,也是目前主要的检测方法,目前市面上大多用于光学放大镜,模板对比的方式,通过投影,将试样投影到模板上,再通过人工调节,对比,判断边缘来确定缺口是否合格,这种方式弊端很多,1、光,采用的传统卤素灯照明,光照不是平行光,这样会对试样造成不必要的阴影,这样会影像人为的判断,使测量结果出现偏差,尤其是再遇到合格与否的试样,更难以保证测量结果的准确性。2、人为判断缺口边缘,每个人判断的方式都有差异,100个人检测会出现100个结果,这样检测结果人为因素很严重。3、效率慢,试样摆放要通过人为去调整,试样测量时必须呈水平,否则影像测量结果,前后左右上下的调整,使测量费时、费力效率低。4、测量结果只能是大概,通过人为判断,结果不能保存起来,不变以后对试样的复查,尤其是仲裁时,无法提供检测数据以及说明。

例如对夏比冲击V型缺口试样来说,GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分:试验方法》中要求,V型缺口深度2mm加工偏差范围是±0.075,缺口角度为45°加工偏差为±2°,缺口底部半径0.25mm加工偏差为0.025mm这样的偏差范围用肉眼去判断是很难做到了,肉眼判断0.1mm的误差都非常吃力,更不用说0.025等误差了。美标更严格。

TOP-AMIG一键冲击缺口测量分析仪,是我公司根据广大用户的实际需求盒按照GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分:试验方法》、ASTM E23,新研发的与夏比V型U型缺口加工检验的设备“一键冲击缺口测量分析仪”测量缺口只需2部就可以完成,步:将试样放到试样台上(测量视场范围内),第二部:点击测量按钮,测量结果瞬间得出。

原理

该测量仪利用光学拍摄的方法,将冲击试验V型U型缺口全貌采集到显示器上,本测量仪采用的千万像素相机及镜头以及机器视觉的平行光源,对试样垂直照射,不会对试样造成任何阴影,使缺轮廓清晰的显示出来,通过离析像素技术,准确自动判定缺口边缘,对缺口测量。

特点

该测量仪,利用光学图像技术将被测冲击试样V型U型缺口通过千万像素的相机及镜头,将图像采集到显示器上,再通过我公司软件的离析像素金属测量缺口尺寸。

测量缺口尺寸只需2部完成,部,将试样放到试样台上,第二部点击测量按钮进行测量,瞬间得出数据。主要的是试样的摆放无需水平、垂直,只要将被测部分放到视场范围内,随意摆放均可。离析像素技术自动判断,没有任何人为因素,100个人测量得出的结果只有1中。

技术参数

测量视场:10*10mm

测量精度:0.01mm

测量分辨率:0.001mm

工作台尺寸:100*100

光源:机器视觉平行光源

相机及镜头:1000万像素

测量方式:一件测量

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